Рейтинг@Mail.ru
Президент ОАЭ встретился с делегациями России, США и Украины - РИА Новости, 23.01.2026
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на
Президент ОАЭ встретился с делегациями России, США и Украины

WAM: президент ОАЭ принял делегации РФ, Украины и США, пожелав успехов

© Фотохост-агентство brics-russia2024.ru | Перейти в медиабанкПрезидент Объединенных Арабских Эмиратов Мухаммед Бен Заид Аль Нахайян
Президент Объединенных Арабских Эмиратов Мухаммед Бен Заид Аль Нахайян - РИА Новости, 1920, 23.01.2026
Президент Объединенных Арабских Эмиратов Мухаммед Бен Заид Аль Нахайян. Архивное фото
Читать ria.ru в
ДзенMaxTelegram
АБУ-ДАБИ, 23 янв - РИА Новости. Президент ОАЭ шейх Мохаммед бин Заид Аль Нахайян принял в пятницу делегации, принимающие участие в первом заседании трехсторонней рабочей группы России, США и Украины по вопросам безопасности, сообщило госагентство WAM.
"Президент ОАЭ шейх Мохаммед бин Заид Аль Нахайян принял делегации РФ, США и Украины, участвующие в трехсторонних переговорах в ОАЭ", - сообщило агентство.
"Шейх пожелал успехов участникам переговоров и позитивных результатов, способствующих завершению многолетнего конфликта … заявив, что ОАЭ поддерживают все усилия и инициативы по нахождению решения украинского кризиса, удовлетворяющие интересы всех сторон", - сообщило агентство.
В пятницу в Абу-Даби (ОАЭ) проходит первое заседание трехсторонней рабочей группы России, США и Украины по вопросам безопасности, на субботу запланировано их продолжение. Ранее помощник президента РФ Юрий Ушаков заявил, что в группу включены представители руководства Минобороны РФ во главе с начальником Главного управления Генерального штаба адмиралом Игорем Костюковым.
Абу-Даби - РИА Новости, 1920, 23.01.2026
В Германии сделали новое заявление о переговорах по Украине в ОАЭ
 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала