Рейтинг@Mail.ru
В России создали систему поиска и сопоставления патентов по 3D-моделям - РИА Новости, 03.03.2020
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

В России создали систему поиска и сопоставления патентов по 3D-моделям

Читать ria.ru в
Дзен
МОСКВА, 23 апр - РИА Новости. Роспатент и Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого (СПбПУ) разработали технологию поиска и сопоставления патентов по 3D-моделям, сообщил РИА Новости руководитель Роспатента Григорий Ивлиев в кулуарах международной конференции "Цифровая трансформация: Фокус на IP".
"Уникальный проект по созданию системы интеллектуального сопоставления и определения схожести трехмерных моделей был создан совместно со специалистами СПбПУ. Специальное программное обеспечение позволяет проводить поиск и сопоставление с применением искусственного интеллекта. В результате планируется достичь повышения удобства предоставления правовой охраны объектам интеллектуальной собственности в России, в том числе сокращения сроков экспертизы и повышения ее качества", - рассказал он.
Руководитель Роспатента Григорий Ивлиев
В Роспатенте рассказали о самых грубых нарушениях патентных прав
Помимо этого, Роспатент работает над введением электронных охранных документов, предоставлением возможности использования простой электронной подписи при обращении за предоставлением некоторых госуслуг Роспатента, использованием распределенных реестров (блокчейна) для регистрации перехода исключительных прав.
Двухдневная международная конференция "Цифровая трансформация: фокус на IP" проходит 23-24 апреля 2019 года в конгресс-центре технополиса "Москва". РИА Новости медиагруппы "Россия сегодня" выступает официальным информационным агентством форума.
Калининград
Проблемы интеллектуальной собственности обсудили на IPQuorum 2019
 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала