Рейтинг@Mail.ru
У привитых "Спутником V" через год сохраняется высокий уровень антител - РИА Новости, 17.02.2022
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на
У привитых "Спутником V" через год сохраняется высокий уровень антител

Заммэра Ракова: у привитых "Спутником V" через год сохраняется высокий уровень антител

© РИА Новости / Максим Богодвид | Перейти в медиабанкАмпулы с препаратом "Гам-Ковид-Вак" ("Спутник V") от COVID-19 в пункте вакцинации у торгово-развлекательного центра "МЕГА" в Казани
Ампулы с препаратом Гам-Ковид-Вак (Спутник V) от COVID-19 в пункте вакцинации у торгово-развлекательного  центра МЕГА в Казани - РИА Новости, 1920, 17.02.2022
Читать ria.ru в
Дзен
МОСКВА, 17 фев — РИА Новости. У добровольцев, вакцинированных "Спутником V", спустя год остается высокий уровень антител, сообщается на сайте мэра Москвы.
Исследования по иммуногенности стартовали в декабре 2021 года, они будут проводиться в течение 12 месяцев.
«
"Первые результаты анализа уровня антител показывают наличие достаточно высокого уровня специфических антител IgG к S-белку коронавируса у всех вакцинированных добровольцев", — говорится в релизе со ссылкой на заммэра столицы по вопросам соцразвития Анастасию Ракову.
В тестировании принимают участие три тысячи человек из числа тех, кто привился "Спутником V" в рамках клинического исследования вакцины.
Уже есть результаты по 1323 (44 процента). У 80 процентов из них титр антител больше 200 BAU, что считается достаточно высоким показателем.
Иммунизация остается самым надежным способом защиты. На сегодняшний день полностью — двумя дозами — привиты 81,5 миллиона россиян, уровень коллективного иммунитета оценивается в 61,9 процента.
Пункт вакцинации от CoVID-19 в ГУМе в Москве - РИА Новости, 1920, 15.02.2022
Сколько прививок защищают от омикрон-штамма
 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала