Рейтинг@Mail.ru
Эксперт назвал поездку американских дипломатов "откровенной провокацией" - РИА Новости, 17.10.2019
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

Эксперт назвал поездку американских дипломатов "откровенной провокацией"

CC BY 3.0 / Игорь Феденко / Вид на Северодвинск
Вид на Северодвинск
Читать ria.ru в
Дзен
МОСКВА, 17 окт – РИА Новости. Трое американских дипломатов, которых задержали в Северодвинске в поезде из Нёноксы, могли проверять бдительность российских спецслужб, заявил РИА Новости генерал-майор ФСБ в запасе Александр Михайлов.
Ранее в СМИ появилась информация, что трех американских дипломатов сняли с поезда из Неноксы в Северодвинске, поскольку территория находится на особом режиме и в действиях дипломатов усмотрели признаки административного правонарушения.
Пресс-атташе посольства США в России Ребекка Росс позже сообщила РИА Новости, что американские дипломаты находились в Неноксе в рамках официальной поездки. В российском МИД уверяют, что дипломаты уведомили Минобороны РФ о поездке, но сообщили о намерениях посетить только Архангельск.
"Скорее всего, это "проверка на вшивость" нашей системы. Дело в том, что дипломаты обязаны перемещаться по территории Российской Федерации в строго установленном порядке, придерживаясь согласованных с министерством иностранных дел маршрутов", - рассказал Михайлов.
"В данном случае они, скорее всего, умышленно уклонились от этого маршрута и, естественно, были задержаны и возвращены назад", - добавил ветеран ФСБ.
Михайлов считает, что случай в Северодвинске можно считать "откровенной провокацией", так как дипломаты такого уровня не могли не знать о необходимости согласовывать все свои перемещения. Эксперт выразил сомнение, что им позволили бы поехать в Северодвинск, где производятся российские атомные подводные лодки.
 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала