Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на
Президентские выборы на Украине

Опрос: менее половины украинцев ожидают фальсификаций во II туре выборов

© Viacheslav RatynskyiЖенщина голосует на избирательном участке во время президентских выборов в Киеве, Украине. 31 марта 2019
Женщина голосует на избирательном участке во время президентских выборов в Киеве, Украине. 31 марта 2019
МОСКВА, 11 апр – РИА Новости. Около 39% жителей Украины ожидают значительных фальсификаций во втором туре выборов президента, свидетельствуют данные опроса, опубликованного в четверг Социологической группой "Рейтинг".
Это первый соцопрос, проведенный перед вторым туром выборов президента Украины.
Фура и Зеленский
Штаб Порошенко обвинили в публикации видео, где Зеленского сбивает грузовик
"Тридцать девять процентов опрошенных отметили, что ожидают значительных фальсификаций во втором туре выборов президента 21 апреля 2019 года, 37% считают, что фальсификации будут незначительными, и только 14% вообще не ожидают никаких фальсификаций выборов", - говорится в тексте опроса на сайте "Рейтинга".
Отмечается, что больше всего тех, кто ожидает значительных фальсификаций на предстоящих выборах, среди жителей юга и востока страны.
Опрос проводился с 5 по 10 апреля  во всех регионах Украины, за исключением неподконтрольной Киеву территории Донбасса. Опрошены три тысячи респондентов в возрасте от 18 лет. Статистическая погрешность не превышает 1,8%.
Выборы президента прошли на Украине 31 марта. Согласно данным ЦИК, никто из кандидатов не набрал необходимого для победы в первом туре числа голосов. Второй тур пройдет 21 апреля. В нем примут участие глава государства Петр Порошенко и Владимир Зеленский, который набрал в первом туре почти вдвое больше голосов, чем действующий президент.
Рекомендуем
РИА
Новости
Лента
новостей
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Чаты
Заголовок открываемого материала