Рейтинг@Mail.ru
В Польше началось следствие в связи с инцидентом с участием главы оппозиции - РИА Новости, 26.05.2016
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

В Польше началось следствие в связи с инцидентом с участием главы оппозиции

© AFP 2024 / Brendan SmialowskiГлава МИД Польши Гжегож Схетына. Архивное фото
Глава МИД Польши Гжегож Схетына. Архивное фото
Читать ria.ru в
Дзен
Во время марша в поддержку экс-президента Польши Гжегож Схетына ударил по видеокамере одного из польских блогеров, сообщают СМИ.

МОСКВА, 26 мая — РИА Новости. Окружная прокуратура Варшавы начала следствие в связи с инцидентом с участием главы крупнейшей оппозиционной партии "Гражданская платформа" Гжегожа Схетыны, сообщает радиостанция RMF FM.

Экс-глава МИД Польши Гжегож Схетына. Архивное фото
Схетына: позиция Польши на международной арене - худшая за 26 лет
Инцидент произошел на марше, организованном Комитетом по защите демократии, когда Схетына якобы ударил по видеокамере одного из польских блогеров. Марш в поддержку экс-президента Польши Леха Валенсы проходил под слоганом "Мы, народ". По словам блогера, Схетына ударил по его камере после вопроса о "доносах секретного агента Болека".

По данным радиостанции, дело начато по статье о препятствовании работе журналистов. За подобное правонарушение грозит штраф или ограничение свободы.

Демонстрация была организована после обнародования Институтом национальной памяти секретных документов, якобы указывающих на агентурное прошлое Валенсы. Среди документов — согласие на сотрудничество со спецслужбами в 1970-е, подписанное "Лех Валенса. Болек".

Сам Валенса заявил, что никогда не сотрудничал со спецслужбами и эти документы являются подделкой. На демонстрации было зачитано послание от Валенсы. Схетына со сцены призывал к защите бывшего президента.

 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала