Рейтинг@Mail.ru
Фондовые рынки США закрылись спадом на 4,3-5% - РИА Новости, 07.11.2008
Регистрация пройдена успешно!
Пожалуйста, перейдите по ссылке из письма, отправленного на

Фондовые рынки США закрылись спадом на 4,3-5%

© REUTERS / Lucas Jackson Трейдер Нью-Йоркской фондовой биржы
Трейдер Нью-Йоркской фондовой биржы
Читать ria.ru в
Дзен
Американские биржевые индексы по итогам торгов в четверг продемонстрировали спад на фоне опасений инвесторов, что новая администрация США окажется не в состоянии быстро и оперативно противостоять продолжающемуся глубокому экономическому спаду.

МОСКВА, 7 ноя - РИА Новости. Американские биржевые индексы по итогам торгов в четверг, 6 ноября, продемонстрировали спад на 4,3-5% на фоне опасений инвесторов, что новая администрация США окажется не в состоянии быстро и оперативно противостоять продолжающемуся глубокому экономическому спаду, передает агентство Франс Пресс.

К закрытию торгов индекс Dow Jones понизился на 4,85%, потеряв 443,16 пункта - до отметки 8696,11 пункта.

S&P 500 в четверг понизился на 5,03%, потеряв 47,89 пункта - до отметки 904,88 пункта.

Индекс NASDAQ по итогам торгов понизился на 72,94 пункта (4,34%) - упав до отметки 1608,70 пункта.

DJIA (Dow Jones Industrial Average, промышленный индекс Доу-Джонса) - средний показатель движения курсов акций 30 крупнейших промышленных корпораций.

S&P 500 (Standard and Poor 500 Index) - индекс цен акций 500 крупнейших по рыночной капитализации компаний.

NASDAQ (National Association of Securities Dealers Automated Quotation, автоматизированная система котировки Национальной ассоциации фондовых дилеров) - индекс высокотехнологичных компаний. Он рассчитывается на основании котировок обыкновенных акций всех компаний (резидентов США и иностранных), торгуемых во внебиржевой системе NASDAQ, взвешенных по рыночной капитализации.

 
 
 
Лента новостей
0
Сначала новыеСначала старые
loader
Онлайн
Заголовок открываемого материала
Чтобы участвовать в дискуссии,
авторизуйтесь или зарегистрируйтесь
loader
Обсуждения
Заголовок открываемого материала